HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)大電流恒流源 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 箱變溫升試驗(yàn)裝置 5年保修

是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流?？焖俑道锶~變換(fastFouriertransform)簡(jiǎn)稱FFT,是利用計(jì)算機(jī)計(jì)算離散傅里葉變換（DFT)的、快速計(jì)算方法的統(tǒng)稱?？焖俑道锶~變換是1965年由J.W.庫(kù)利和T.W.圖基提出的。采用這種算法能使計(jì)算機(jī)計(jì)算離散傅里葉變換所需要的乘法次數(shù)大為減少，特別是被變換的抽樣點(diǎn)數(shù)N越多，F(xiàn)FT算法計(jì)算量的節(jié)省就越顯著。一直以來(lái)，我們接受的教育就是要用FFT來(lái)進(jìn)行頻域信號(hào)的測(cè)試與。工作以后我們利用示波器上的FFT功能進(jìn)行頻域信號(hào)測(cè)試。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無(wú)需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 Simplelink傳感器控制器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動(dòng)模式、待機(jī)模式和啟動(dòng)耗能階段均只消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控制器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備，它們專為實(shí)現(xiàn)超低功率而進(jìn)行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時(shí)鐘模式，使得該控制器非常適合感應(yīng)式測(cè)量應(yīng)用，從而實(shí)現(xiàn)超低功率：，基于感應(yīng)式測(cè)量原則，可以在100Hz時(shí)達(dá)到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請(qǐng)參閱流量表應(yīng)用示例，閱讀“采用CC13x2R無(wú)線MCU的單芯片流量表解決方案。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進(jìn)行測(cè)試，然后根據(jù)樣品的失效機(jī)理和模型來(lái)推算產(chǎn)品在正常條件下的壽命?？煽啃允菍?duì)產(chǎn)品耐久力的測(cè)量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來(lái)表示。冷熱沖擊試驗(yàn)用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性。在研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝缺陷，在有些情況下也可用于環(huán)境應(yīng)力篩選，剔除產(chǎn)品的早期故障。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：新一代無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)(PON)Tyndall光電子封裝小組研究經(jīng)理Dr.LeeCarroll表示：“過(guò)去的十年見證了硅光子從出現(xiàn)到成為新一代信息通信技術(shù)應(yīng)用媒介的發(fā)展過(guò)程。采用面對(duì)面疊加法（3D集成）在硅光子集成電路(Si-PIC)頂部安裝驅(qū)動(dòng)器電子集成電路是一種基于光電子平臺(tái)實(shí)現(xiàn)高速電子解調(diào)與分配的實(shí)用方案。Tyndall研究院目前正在研發(fā)用于高速家用光纖網(wǎng)絡(luò)連接的新一代無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)(PON)演示模塊。

1.在連接儀器測(cè)試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。先測(cè)試出可控硅的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測(cè)試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測(cè)試后，逐漸升壓，觀測(cè)漏電流，當(dāng)數(shù)值超過(guò)其額定峰值電壓后，可控硅被擊穿，但采用此方法可能會(huì)破壞其PN結(jié)，并且只能測(cè)試其是否導(dǎo)通，而不能測(cè)試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測(cè)試。搖表測(cè)試法用搖表對(duì)可控硅進(jìn)行測(cè)量，參照之前使用的漏電檢測(cè)法。為防止搖表法測(cè)試過(guò)程中擊穿或損壞可控硅，改變搖表操作方法，即要對(duì)搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制，兩筆端鏈接K極對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。