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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

兩個(gè)光電碼盤安裝在軸的兩橫截面上,以檢測(cè)軸的扭轉(zhuǎn)角,它們隨軸一起轉(zhuǎn)動(dòng),光電碼盤上的遮擋齒或者通光孔掃過(guò)光電傳感器會(huì)周期性的遮擋和打電開(kāi)關(guān)上光電檢測(cè)器與發(fā)光二極管之間的光路,觸發(fā)光電傳感器產(chǎn)生連續(xù)的光脈沖輸出,對(duì)應(yīng)的光電開(kāi)關(guān)的輸出是同周期的低電平和高電平的脈沖。光柵正視圖與側(cè)視圖光柵法能對(duì)扭矩、轉(zhuǎn)速、軸功率進(jìn)行瞬時(shí)和長(zhǎng)時(shí)間實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè),及時(shí)反映軸系運(yùn)行狀態(tài),提前主機(jī)、軸系故障的發(fā)生,提高設(shè)備利用率,降低維修費(fèi)用。sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。由的基本結(jié)構(gòu)可知,是不可能被看為一個(gè)透明的設(shè)備,一定會(huì)有很多性能上的限制,比如電纜和補(bǔ)償設(shè)備決定了的帶寬,又比如中的器件尺寸也決定了的輸入電壓。所以會(huì)有一些基本的參數(shù)。在此歸納一下:衰減系數(shù)衰減系數(shù),是所有都會(huì)有的一個(gè)參數(shù),指的是使信號(hào)幅度下降的程度。某些可能會(huì)有可選擇的衰減系數(shù)。典型的衰減系數(shù)有1×、10×和100×。1×表示不會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行衰減。10×則表示信號(hào)會(huì)被衰減10倍再輸入示波器。sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

在開(kāi)始前,我們需要簡(jiǎn)單準(zhǔn)備一下器材,來(lái)進(jìn)行輔助驗(yàn)證:函數(shù)信號(hào)發(fā)生器SDG2122X,用于輸出一個(gè)固定頻率的信號(hào)。示波器SDS3000,用于測(cè)試被測(cè)示波器輸出的觸發(fā)信號(hào)的頻率。BNC雙頭線纜若干條。我們測(cè)試的是鼎陽(yáng)科技的SDS1202X示波器,操作步驟如下:設(shè)置信號(hào)源輸出一個(gè)10MHZ(頻率大小無(wú)要求)的正弦波,用BNC線纜將該信號(hào)輸入到示波器SD1202X的通道CH1。如下.信號(hào)源輸出10MHZ正弦波至示波器CH1通過(guò)示波器面板的Utility按鍵,選擇菜單下輸出設(shè)置,將示波器的輸出設(shè)置為觸發(fā)輸出,以保證示波器每捕獲一次波形,則對(duì)應(yīng)后面板pass/failTriggerout接口輸出一個(gè)周期的脈沖信號(hào)。sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。對(duì)于通信系統(tǒng)來(lái)說(shuō),諧波失真信號(hào)表現(xiàn)為通信頻帶中的干擾信號(hào),容易導(dǎo)致系統(tǒng)的信噪比下降,嚴(yán)重影響通信系統(tǒng)的容量和質(zhì)量,因此快速的測(cè)量諧波失真顯得非常重要。諧波失真產(chǎn)物屬于一種可預(yù)見(jiàn)性的失真,它們直接與輸入信號(hào)的頻率相關(guān)。在實(shí)際測(cè)量中,通常使用頻譜儀來(lái)測(cè)量信號(hào)的總諧波失真(TotalHarmonicDistortion,簡(jiǎn)稱THD),并以此作為諧波失真程度的評(píng)估依據(jù)。方法一:利用掃頻功能手動(dòng)測(cè)量利用頻譜儀測(cè)量信號(hào)的諧波失真時(shí),在測(cè)量過(guò)程中經(jīng)過(guò)多次手動(dòng)調(diào)節(jié)信號(hào)的頻率、分辨率帶寬、掃描時(shí)間、頻寬等儀器測(cè)量參數(shù),并利用標(biāo)記讀出各次諧波的幅度值,然后根據(jù)諧波失真計(jì)算公式手動(dòng)計(jì)算總諧波失真值。sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 testo89紅外熱成像儀因其高熱靈敏度、高分辨率、德圖的濕度成像功能,順利完成檢測(cè)任務(wù)。解決方案德圖專家來(lái)到洞窟后,對(duì)現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估。洞內(nèi)的石像在古代依山開(kāi)鑿而成,歷經(jīng)朝代更迭,石像表面進(jìn)行了泥塑彩繪并以這樣的姿態(tài)流傳現(xiàn)今。此次,針對(duì)此類石窟石像,有三個(gè)檢測(cè)目標(biāo):發(fā)現(xiàn)裂紋檢測(cè)佛像表面的泥塑裂紋,使得修復(fù)專家盡早發(fā)現(xiàn)并著手修復(fù)。當(dāng)泥塑的裂紋擴(kuò)大到肉眼可見(jiàn)甚至開(kāi)始脫落時(shí),石像的修復(fù)難度就越大。佛像均有十幾米高,近距離檢查佛像本體十分不便。sf6露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量


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