HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應 沖擊電壓試驗裝置 電纜交流耐壓試驗裝置 交直流分壓器產品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設備等試品進行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質沖擊擊穿、放電等試驗中。

但在CAN總線的工業(yè)自動化應用中，由于設備的互通互聯(lián)的需求越來越多，所以需要一個開放的、標準化的高層協(xié)議：這個協(xié)議支持CAN廠商設備的互用性、互換性，能夠實現在CAN網絡中提供標準的、統(tǒng)一的系統(tǒng)通訊模式，提供設備功能描述方式，執(zhí)行網絡管理功能。其中包括：l應用層(Applicationlayer)：為網絡中每一個有效設備都能夠提供一組有用的服務與協(xié)議。l通訊描述(Communicationprofile)：提供配置設備、通訊數據的含義，定義數據通訊方式。

沖擊測試系統(tǒng)系應用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗。此種測試系依據相關的標準規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據試驗要求，調節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控制方式充電時，根據設定值，自動充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重復性和穩(wěn)定度很好。

動作控制

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控制調節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控制調節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動接地、充電極性切換、充電次數設定等功能。

手動/自動控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

伺服系統(tǒng)是工業(yè)自動化的重要組成部分，是自動化行業(yè)中實現、運動必要途徑。伺服系統(tǒng)關鍵技術的突破，將地提升智能制造的技術水平和市場競爭力。伺服市場規(guī)模對機器人行業(yè)以及“工業(yè)4.0”的積極推動，刺激了伺服的市場需求增長，特別是網絡型伺服、總線型伺服系統(tǒng)得到了快速發(fā)展。整體來看，近幾年來伺服市場仍保持著較高的增速。預計未來隨著工業(yè)機器人行業(yè)的深化、工業(yè)自動化的進一步突進和智能制造的深入推進，伺服市場將會出現新一輪爆發(fā)式增長，到2020年，伺服市場規(guī)模將達到254億元。