HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
5年保修 沖擊電壓試驗(yàn)裝置 超低頻發(fā)生器 匝間絕緣電阻測試儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

在這個(gè)過程中，常常會(huì)出現(xiàn)問題，其中區(qū)主要的就是干擾問題，那我們又該如何解決這個(gè)問題，下面就來介紹幾種常見的方法。習(xí)慣上我們把對電測系統(tǒng)或儀器的測量結(jié)果起影響作用的外部或內(nèi)部的無用信號(hào)稱為干擾。干擾造成的信號(hào)，不僅對設(shè)備本身造成損壞，甚至還會(huì)使整個(gè)控制系統(tǒng)因邏輯混亂造成控制失靈，形成生產(chǎn)事故，甚至停產(chǎn)。1干擾的類型按噪聲干擾模式不同，分為共模干擾和差模干擾。共模干擾和差模干擾是一種比較常用的分類方法。

沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

由于電力電子技術(shù)的飛速發(fā)展，電力電子裝置在電力系統(tǒng)、工業(yè)、交通及家庭中的應(yīng)用日益廣泛，諧波所造成的危害也日趨嚴(yán)重，如何治理電氣中的諧波問題，已經(jīng)成為世界各國的重中之重。背景一：2003年8月17日，美國紐約大停電，數(shù)萬居民在一年中熱的天氣下“煎熬”了5天，發(fā)生60起重大火災(zāi)，經(jīng)濟(jì)損失200－300億美元。背景二：九十年代初，三列電氣機(jī)車同時(shí)在山西石洞口電廠供電區(qū)域通過，結(jié)果將經(jīng)過十幾次鍛打的12.5兆瓦發(fā)電機(jī)組主軸扭成“麻花”，西北電網(wǎng)因此解網(wǎng)，發(fā)生電力系統(tǒng)等級(jí)惡故。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

端接測試點(diǎn)長時(shí)間監(jiān)測異常ZDS4的時(shí)序軟件具備長時(shí)間統(tǒng)計(jì)功能，下班后設(shè)置好示波器，對數(shù)據(jù)采集儀的SPI總線時(shí)序連續(xù)監(jiān)測一個(gè)晚上，天上班的時(shí)候，導(dǎo)出監(jiān)測結(jié)果，如所示，一個(gè)晚上總共進(jìn)行了72185次測量，其中有1347次是測量失敗的，導(dǎo)致異常的原因是SPI的數(shù)據(jù)建立時(shí)間不滿足后級(jí)芯片的時(shí)序要求。示波器自動(dòng)保存了這1347份失敗的測試報(bào)告，打開第1345份測試報(bào)告，如所示，顯示了當(dāng)前建立時(shí)間為3.75ns（包含時(shí)序違規(guī)處截圖），不滿足后級(jí)芯片4ns建立時(shí)間的要求，而且歷史出現(xiàn)差的時(shí)序是3.5ns，時(shí)序是8.5ns，問題得以。