HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
HN系列 雷沖擊電壓發(fā)生器 超低頻高壓發(fā)生器 過電壓保護器測試儀產品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設備等試品進行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質沖擊擊穿、放電等試驗中。

當前低壓配電系統(tǒng)中，尤其是農網改造過程中應用較廣的三相負荷不平衡自動調節(jié)裝置的主要功能就是通過綜合技術手段，自動檢測三相電路中的不平衡問題，智能優(yōu)化三相電流的不平衡，以達到“合理的分配負荷”的目的。本文通過設定不同的測試工況，來直觀的檢測某三相負荷不平衡自動調節(jié)裝置在自動檢測三相線路不平衡問題、智能優(yōu)化三相電流不平衡方面的綜合能力。測試工況待測試裝置技術參數(shù)交流輸入（三相四線）：400V50Hz額定容量：75kVA如所示，搭建三相電流不平衡補償測試平臺，模擬裝置智能補償三相不平衡有功電流時的運行環(huán)境，圖示測試回路中RRR3為電阻性負載。

沖擊測試系統(tǒng)系應用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗。此種測試系依據相關的標準規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

無論是實驗室環(huán)境還是生產車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能，以幫助芯片制造商應對他們面臨的挑戰(zhàn)，這一點通過NI的PXISMU可以完全體現(xiàn)出來?！庇捎谄涓咄掏铝?、高性價比和占地面積小，NI的半導體測試系統(tǒng)(STS)正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的并行性，以及在生產中提供實驗室級別的測量質量。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據試驗要求，調節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控制方式充電時，根據設定值，自動充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重復性和穩(wěn)定度很好。

動作控制

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控制調節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控制調節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

數(shù)字存儲示波器的原理組成框圖輸入的電壓信號經耦合電路后送至前端放大器，前端放大器將信號放大，以提高示波器的靈敏度和動態(tài)范圍。放大器輸出的信號由取樣/保持電路進行取樣，并由A/D轉換器數(shù)字化，經過A/D轉換后，信號變成了數(shù)字形式存入內存中，微處理器對內存中的數(shù)字化信號波形進行相應的處理，并顯示在顯示屏上。這就是數(shù)字存儲示波器的工作過程。采樣、采樣速率我們知道，計算機只能處理離散的數(shù)字信號。在模擬電壓信號進入示波器后面臨的要問題就是連續(xù)信號的數(shù)字化（模/數(shù)轉化）問題。