HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
大量供應(yīng) 沖擊電壓發(fā)生裝置 干式試驗(yàn)變壓器 變頻調(diào)感發(fā)電機(jī)交流耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

將福祿克多功能校驗(yàn)儀設(shè)置為輸出模式令在福祿克多功能校驗(yàn)儀開機(jī)時(shí)按住RANGE鍵兩秒鐘，儀器可以0?20mA和4?20mA之間轉(zhuǎn)換。為了確認(rèn)是你所需要的模式，可將HIJ試筆短路顯示為0或4mA。此時(shí)F787福祿克多功能校驗(yàn)儀正在輸出的4mA電流并提供環(huán)路電源隔離器的輸入工作電壓。用一塊福祿克多功能校驗(yàn)儀測試輸出端的電流。依照輸出表中的指示4mA電流來調(diào)整零點(diǎn)。用MINMAX鍵將電流輸出步迸至20mA，并調(diào)整滿度點(diǎn)(Span),直到隔離器輸出端的電流值到20mA。

沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

尤其是在以下兩種情況下，非常不建議采用兩線制測試：測試導(dǎo)線過長，R1R2偏大，有時(shí)甚至?xí)叱霰粶y電阻，兩線制測試極易導(dǎo)致結(jié)果錯(cuò)誤；被測電阻Rb為低阻值時(shí)，饋線電阻的影響會(huì)比平時(shí)更大，也容易造成讀數(shù)誤差較大。蓄電池的內(nèi)阻很小，2V電芯的典型內(nèi)阻為.3mΩ，所以對(duì)于此類阻值的測量，需要采用更的測試方法。四線制測試原理四線制測試法即為開爾文測試法。如下圖所示，開爾文連接有兩個(gè)要求：對(duì)于每個(gè)測試點(diǎn)都有一條激勵(lì)線和一條檢測線,二者嚴(yán)格分開，各自構(gòu)成立回路：激勵(lì)回路用于測定流過Rb的電流I1，檢測回路用于測定Rb兩端的電壓V34，因電壓表的內(nèi)部阻抗遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于檢測回路的饋線電阻R3和R4，因此流經(jīng)電壓表的電流I2幾乎為零，所量到的電壓V34也幾乎是Rb本身的壓降。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

與其他靈敏的SMU相比，4201-SMU和4211-SMU的電容指標(biāo)已經(jīng)提高，這些SMU模塊用于可配置的Model4200A-SCS參數(shù)儀，使用Clarius+軟件進(jìn)行交互控制。本文探討了4201-SMU和4211-SMU可以進(jìn)行穩(wěn)定的弱電流測量的多種應(yīng)用實(shí)例，包括測試：平板顯示器上的OLED像素器件、長電纜MOSFET傳遞特點(diǎn)、通過開關(guān)矩陣連接的FET、卡盤上的納米FETI-V測量、電容器泄漏測量。