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HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗設(shè)備 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 5年保修
是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。電磁傳感器用于洗碗機中控制噴水臂的移動。許多其他家電中也使用了先進的傳感器。非接觸式檢測系統(tǒng),,用于溫度控制的微加工熱電偶紅外傳感器,它還可以用于炊具、頭發(fā)護理和烤面包機中。流量傳感器可用于電扇和真空吸塵器中空氣質(zhì)量的檢測。加速度和坡度傳感器可用在電奧斗中。智能多氣體傳感器(人造鼻)可用于自動陪烤控制中。用于加熱和溫度控制方面的傳感器有:溫度傳感器和開關(guān)、壓力傳感器和開關(guān)、氣體和液體流量傳感器。
特點
1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設(shè)備,全自動控制,式操作,簡單方便。
2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng),工控機可實現(xiàn)四遙控能
3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù),抗干擾能力強,輸出精度高,紋波系數(shù)小于0.2%,準(zhǔn)確度高于0.5%;。
4、 自動試驗只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可,無需人工監(jiān)控,僅需設(shè)定測試電流,省去手動調(diào)壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定
5、絕緣耐壓 1800/AC 1min, 絕緣等級:B級
可選用IT8800系列高性能直流電子負(fù)載,設(shè)置負(fù)載工作在CV恒壓模式,且電壓設(shè)定值大于模擬蓄電池的電源的輸出電壓,避免消耗供電直流源輸出的電量。IT8800系列功率范圍150W-55kW,電壓/電流測量速度可達(dá)50kHz,分辨率可達(dá)0.1mV/0.01mA,滿足客戶高精度的測試需求;具有定電壓、定電流、定電阻、定功率四種操作模式,保護功能完善,內(nèi)置RS232/GPIB/USB通訊接口,滿足通訊需求。
二、技術(shù)指標(biāo)
1.輸入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定。
3. 輸出開口電壓:0-20V.
4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。
5.電流波形失真 THD 1% 設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.
6.保護設(shè)置 過流、過壓
7.絕緣阻抗 20兆歐
8.絕緣耐壓 1800/AC 1MIN
9.可測被測元件的電流動作時間。并可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判別。測時范圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.電感位移傳感器被廣泛應(yīng)用于微小位移量檢測中,但在一些工程中現(xiàn)有傳感器的測量精度和靈敏度達(dá)不到測量要求。針對這一問題,對傳感器前段信號處理電路進行改進,在傳感器上下線圈并聯(lián)電容形成LC電路,利用LC電路諧振效應(yīng)改善電路的性能,以提高信號源頭的靈敏度;采用Multisim軟件對半橋和全橋電路在并聯(lián)不同大小的電容后的性能進行仿真,并用Matlab對生成的曲線進行二乘擬合,比較得出使電路性能的電容值和并聯(lián)方法。
三、操作方法
1、儀器接入380V電壓,在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。
2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān),等待幾秒進入試驗選擇界面如下圖:
電流輸出線與常閉觸點接入后,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束后,都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。
2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界面如下圖:
自動試驗時,每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖:代數(shù)字存儲示波器(DSO,DigitalStorgeOscilloscope,如b)主要通過高速的ADC將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,然后存儲于內(nèi)存中,再由CPU運算與繪制波形。采用這種結(jié)構(gòu)所設(shè)計的數(shù)字存儲示波器,其功能比模擬示波器有了很大的提升,波形存儲、波形運算、自動測量等等。模擬示波器的優(yōu)勢在于他的即時、快速和豐富表現(xiàn)信號的能力,這也是數(shù)字示波器的缺點,原因在于CPU的運算能力遠(yuǎn)不及信號的變化速度。
1.在連接儀器測試線前,應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。
2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。