HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗設備HNDL 交流溫升試驗裝置 容量大 5年保修 

用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關柜進行試驗的要求。模擬偏置模擬偏置，也稱為DC偏置，是一個非常有用的功能，大多數(shù)示波器都具有該功能。如果運用得當，可以避免小信號測試時垂直分辨率的丟失的問題。模擬偏置給輸入的信號加上一個直流偏置電壓，如果輸入信號超出了示波器ADC的測量范圍，加上偏置電壓之后，能將信號調節(jié)到示波器的范圍內。超出范圍的信號通過模擬偏置將信號調節(jié)至示波器的測量范圍內典型應用：LVDS1）LVDS信號特征LVDS（低壓差分信號），如所示，兩組相位相反的差分信號，信號特征如下：峰峰值：350mV共模電壓偏置：1.2V高壓：1.2V+0.5*350mV=1.375V低壓：1.2V+0.5*350mV=1.025V該測的是PicoScope6404B示波器，4通道，500MHz，8位分辨率，信號是仿真的LVDS信號。

1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關柜及相關標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

微分結構函數(shù)中，波峰與波谷的拐點就是兩種結構的分界處，便于識別器件內部的各層結構。在結構函數(shù)的末端，其值趨向于一條垂直的漸近線，此時代表熱流傳導到了空氣層，由于空氣的體積無窮大，因此熱容也就無窮大。從原點到這條漸近線之間的x值就是結區(qū)到空氣環(huán)境的熱阻，也就是穩(wěn)態(tài)情況下的熱阻。利用結構函數(shù)識別器件封裝內部的“缺陷”：對比上面兩個器件的剖面結構，固晶層可見明顯差異。如下圖，左邊為正常產品，右邊為固晶層有缺陷的產品。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升試驗設備HNDL 交流溫升試驗裝置 容量大 5年保修對動態(tài)測試要求比較高的，應確認電流斜率是否滿足測試要求。一般而言滿量程電流爬升時間越小，動態(tài)性能越優(yōu)越。對測試環(huán)境比較惡劣的，應當選擇環(huán)路帶寬比較高的負載，一般而言，滿量程電流爬升時間越小，環(huán)路帶寬越高，惡劣條件下的表現(xiàn)越優(yōu)越，可靠性也越高。對智能應用及自動化測試要求比較高的用戶，應當選擇高采樣率的負載，高采樣率才能保證輸入信號的還原、保證應用的、為智能應用的擴展提供條件。全天科技大功率直流電子負載系列采用5Khz同步采樣技術，可以測量顯示瞬態(tài)過沖Vp+、瞬態(tài)跌落Vp-、電源上升/下降時間等一般負載無法提供的功能。