HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 三相功率源 多表位電壓監(jiān)測儀校驗臺HN8000 高質(zhì)量供應 儀表校驗臺

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標準源，軟件校準。各項輸出均采用動態(tài)負載自動調(diào)整技術,降低了負載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器（DSP）、複雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機係統(tǒng)設計而成，將係統(tǒng)、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強。用於檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

testo89紅外熱成像儀因其高熱靈敏度、高分辨率、德圖的濕度成像功能，順利完成檢測任務。解決方案德圖專家來到洞窟後，對現(xiàn)場評估。洞內(nèi)的石像在古代依山開鑿而成，曆經(jīng)朝代更迭，石像表麵進行了泥塑彩繪並以這樣的姿態(tài)流傳現(xiàn)今。此次，針對此類石窟石像，有三個檢測目標：發(fā)現(xiàn)裂紋檢測佛像表麵的泥塑裂紋，使得修複專家儘早發(fā)現(xiàn)並著手修複。當泥塑的裂紋擴大到肉眼可見甚至開始脫落時，石像的修複難度就越大。佛像均有十幾米高，近距離檢查佛像本體十分不便。
 技術參數(shù)：

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)範圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)範圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準確度： 0.05%RG

     三相功率源 多表位電壓監(jiān)測儀校驗臺HN8000 高質(zhì)量供應 儀表校驗臺很多示波器用戶都聽說過“滾動模式”，但僅停留在一個模棱兩可的概念。滾動模式與常規(guī)模式到底有何區(qū)彆？滾動模式具體有何作用？本文為您一一道來。什麼是滾動模式？常規(guī)模式：即YT模式，在YT模式下波形非連續(xù)采集，存在死區(qū)時間，波形疊加顯示。滾動模式：波形連續(xù)采樣，無死區(qū)時間，無觸發(fā)，邊采樣邊顯示，波形始終從右往左滾動顯示，適用於低頻信號的實時觀察。滾動模式與常規(guī)模式滾動模式有什麼用？滾動模式在測量低頻信號時可以實時觀察信號是否存在異常，了解信號的特征和變化趨勢，如頻率、幅值、脈寬等。頻率設置：在源關閉狀態(tài)可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置範圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出範圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過麵板按鍵編輯器進行頻率設置：對交流源的頻率信號進行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處於關閉狀態(tài)，則打開並輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調(diào)節(jié)細度，按【←】鍵可左移光標，按【→】鍵可右移光標。確定好調(diào)節(jié)細度後旋轉編碼器可對頻率信號進行升/降調(diào)節(jié)

目前很多偏僻的地方和部分城市抄電表還是人工的方式，費時費力，也有很多地區(qū)通過蓋章升級已經(jīng)實現(xiàn)了集中抄表。遠程電表抄表係統(tǒng)主要包括電表、采集器、集中器、主站管理中心。遠程電表抄表係統(tǒng)框架目前遠程電表抄表係統(tǒng)主要包括電表、采集器、集中器、主站管理中心。如圖1所示。采集器通過總線方式（多為485總線）收集電表信息，然後再通過總線將信息傳輸?shù)郊衅魃?，集中器可通過以太網(wǎng)或者公網(wǎng)無線方式和主站管理中線通信。係統(tǒng)中采集器和集中器容易產(chǎn)生混淆。

直流標準源參數(shù)操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時，標準源視窗將處於直流標準源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處於變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置；設置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。

對於直流參數(shù)的設置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處於關閉狀態(tài)，則打開並輸出直流源，若直流源已處於輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應幅度。

簡介40多年來，數(shù)字功能測試一直是測試領域的一部分。早的測試係統(tǒng)采用簡單的靜態(tài)數(shù)字測試功能。然而，隨著這些數(shù)字設備，模塊和係統(tǒng)的性能、複雜性的發(fā)展，數(shù)字測試儀器也在不斷發(fā)展。特彆是，器件切換速率相關技術的持續(xù)進步已經(jīng)對測試儀器和係統(tǒng)提供了相對更高的性能要求，而今天的半導體測試係統(tǒng)提供了具有高功耗的數(shù)GHz測試功能。在**-航天應用，數(shù)字功能測試要求不斷的提出一係列特的要求和挑戰(zhàn)。與設備測試相關的測試要求不同，M-A應用主要側重於支持模塊和係統(tǒng)級測試。