2.5.1接線、拆線原則

l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，後電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，後接電池端的連線。

l 測(cè)試完畢，用戶(hù)拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、後儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，後拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組並接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極並接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

實(shí)際的電路設(shè)計(jì)中，由於晶體管的開(kāi)關(guān)以及實(shí)際互連線的特性等原因?qū)е码娫丛谝欢ü?fàn)圍內(nèi)波動(dòng)。當(dāng)實(shí)際供電值高於波動(dòng)上限時(shí)，就會(huì)引起芯片工作的可靠性問(wèn)題；當(dāng)實(shí)際供電值低於下限時(shí)會(huì)導(dǎo)致芯片的工作性能降低甚至不能工作；當(dāng)電壓波動(dòng)幅度較大時(shí)，可能會(huì)直接影響相關(guān)電路的信號(hào)質(zhì)量?；渡鲜鲞@些問(wèn)題，隨著單板高速高密度的發(fā)展，電源完整性已經(jīng)成為製約設(shè)計(jì)的一個(gè)重要因素。在硬件設(shè)計(jì)和調(diào)測(cè)過(guò)程中，必須保證電源電路高質(zhì)量工作。

2.6電量采集（選配）

l 測(cè)試儀工作於在線監(jiān)測(cè)時(shí)，電量采集器用於監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

l 測(cè)試儀工作於放電測(cè)試時(shí)，電量采集器用於測(cè)戶(hù)設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請(qǐng)勿接反

2.7並機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分彆連接好測(cè)試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過(guò)RS485接口連接一起。

抖動(dòng)引起的滿量程信噪比由以下公式得出舉個(gè)例子，頻率為1Ghz，抖動(dòng)為100FS均方根值時(shí)，信噪比為64dB。在時(shí)域中查看時(shí)，x軸方向的編碼邊沿變化會(huì)導(dǎo)致y軸誤差，幅度取決於邊沿的上升時(shí)間?？讖蕉秳?dòng)會(huì)在ADC輸出產(chǎn)生誤差，如所示。抖動(dòng)可能產(chǎn)生於內(nèi)部的AD外部的采樣時(shí)鐘或接口電路。.孔徑抖動(dòng)和采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的影響顯示抖動(dòng)對(duì)信噪比的影響。圖中顯示了5條線，分彆代表不同的抖動(dòng)值。x軸是滿量程模擬輸入頻率，y軸是由抖動(dòng)引起的信噪比，有彆於ADC總信噪比。