2.5.1接線、拆線原則

l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，後電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，後接電池端的連線。

l 測(cè)試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、後儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，後拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組並接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極並接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

TestCenter具有完全自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年，TestCenter入選國(guó)防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示，為Testercenter的界麵，TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試領(lǐng)域中被應(yīng)用，包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、係統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界麵IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛，為了規(guī)範(fàn)測(cè)試診斷過(guò)程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享，IEEE製訂了人工智能應(yīng)用於係統(tǒng)測(cè)試與診斷領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)，也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。

2.6電量采集（選配）

l 測(cè)試儀工作於在線監(jiān)測(cè)時(shí)，電量采集器用於監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

l 測(cè)試儀工作於放電測(cè)試時(shí)，電量采集器用於測(cè)戶設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請(qǐng)勿接反

2.7並機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分彆連接好測(cè)試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過(guò)RS485接口連接一起。

可能出現(xiàn)過(guò)流的情況在板燒寫：在插拔線過(guò)程中，因?yàn)榻渝e(cuò)線而導(dǎo)致短路過(guò)流；PCB板在生產(chǎn)過(guò)程中有焊接短路問(wèn)題，當(dāng)編程器給其上電時(shí)就會(huì)出現(xiàn)過(guò)流現(xiàn)象；PCB板上有大容量電容，編程器給PCB板上電瞬間浪湧電流過(guò)大，從而誤觸發(fā)過(guò)流保護(hù)機(jī)製。裸片燒寫：把芯片放到燒錄座時(shí)，由於芯片放偏或芯片引腳偏斜，造成編程器上電時(shí)短路過(guò)流；將芯片從板上拆下，芯片引腳上有錫渣冇清理乾淨(jìng)就放到燒錄座上編程，造成編程器上電短路。如果編程器的電源過(guò)流保護(hù)不夠完善，當(dāng)遇到芯片或電路板短路時(shí)，輕則損壞編程器，重則可能會(huì)損壞芯片或電路板，造成嚴(yán)重的生產(chǎn)事故。