HN1016B蓄電池充放監(jiān)測一體機 蓄電池充放電機 智能蓄電池活化儀 單體蓄電池放電測試儀 長期供應(yīng)

該產(chǎn)品集蓄電池恒流放電，單體監(jiān)測，智能充電於一體。一機多用，減少企業(yè)成本，降低維護人員勞動強度，為電池和UPS電源維護提供科學(xué)的檢測手段。用於電信、、電力等部門。根據(jù)需要進行深度放電，然後充電，使電池組隨時保持滿足狀態(tài)並延長電池壽命，是蓄電池維護工作的助手。 

蓄電池組充放檢電一體機=蓄電池組恒流放電+蓄電池組智能充電+單體電池電壓監(jiān)測+蓄電池組活化.

從差分波形上更加準(zhǔn)確，因為差分波形濾除了線路上的共模乾擾信號。但是很遺憾，目前PicoScope6軟件的串行功能隻能從CANH或CANL波形上進行，暫時還無法實現(xiàn)從差分波形上進行。PicoScope6串行功能設(shè)置Pico的任何一臺示波器都具有串行的功能，不同係列的區(qū)彆在於示波器硬件參數(shù)高時，采集到的波形更加平滑，噪聲小。在進行時，我們可以隻從CAN高波形上進行，或隻從CAN低波形上進行，或者同時對CANH和CANL波形進行。

二、主要功能及特點

智能三階段充電；

1、充電功能：

a. 嚴(yán)格按照蓄電池充電特性曲線進行自動充電，設(shè)計的充電模式是“恒流→（均充穩(wěn)壓值）定壓減流→（自動判彆轉(zhuǎn)為）涓流浮充”，具有充電速度快、充電還原效率高、無需人工值守、超長時間充電無過充電危險、確保蓄電池使用壽命等優(yōu)點;

b. 用戶設(shè)定好均充電壓、浮充電壓、單節(jié)電壓上限、充電電流、充電時間、充入容量等參數(shù)，測試儀便自動執(zhí)行充電過程

2、放電功能：

a. 測試儀設(shè)有兩種放電方式，恒流放電和恒功率放電，用戶可根據(jù)自己需要選擇放電方式對電池組進行放電試驗

b. 用戶設(shè)定好整組電壓、放電容量、單體終止電壓、滿足條件單節(jié)數(shù)、放電時間等參數(shù)，測試儀自動執(zhí)行放電試驗，可解調(diào)ASK，F(xiàn)SK，PSK，QAM等數(shù)字調(diào)製信號，並可顯示頻譜圖，瀑布圖，IQ圖，星座圖，眼圖及EVM隨時間的變化曲線等。SGA1是可作為一款功能的信號儀來使用，也可以作為一款功能強大的信號源來使用，同時由於SGA1兼具信號發(fā)射和接收功能，它可以幫您隨時確保其發(fā)出的信號就是您想要的信號，以免在不知情的情況下耽誤您的硬件調(diào)試效率。產(chǎn)品主要特點：1.SGA1A：複雜矢量信號產(chǎn)生與，儘在一手掌握1)結(jié)構(gòu)緊湊，整機尺寸264*21*75mm2)輕巧便攜（約3kg）3)內(nèi)置新一代高性能處理係統(tǒng)，支持多種控製接口4)支持多臺設(shè)備通過Hub連接到一臺電腦，並行顯示多臺設(shè)備的結(jié)果2.SGA1C：指尖靈動揮灑、細節(jié)分毫畢現(xiàn)——射頻測試從此優(yōu)雅起來1)多實時處理和顯示6種測試任務(wù)2)機身厚度僅約1cm，節(jié)省臺麵空間3)21.5寸超大觸摸屏，淘汰鍵盤和按鈕針對觸屏操作而優(yōu)化的界麵實時顯示信號源狀態(tài)和關(guān)鍵參數(shù)4)即插即用主流的USB儀器（如USB功率、USB網(wǎng)絡(luò)儀、USB示波器等），輕鬆擴展工程師的測試臺應(yīng)用領(lǐng)域1.大學(xué)教育與培訓(xùn)現(xiàn)高校越來越重視學(xué)生動手能力培養(yǎng)，頻譜儀和信號源已經(jīng)是通信原理、高頻電子線路、射頻基礎(chǔ)、電磁場與天線等實驗室必備設(shè)備。

3、在線監(jiān)測功能：

a. 在線監(jiān)測功能用來對電池組及單節(jié)電池進行實時的監(jiān)測及極限報警提示；監(jiān)測信息包括整組電壓、單節(jié)電池電壓及監(jiān)測時間；用戶可通過設(shè)定終止監(jiān)測時間或人為終止操作停止在線監(jiān)測，也可通過設(shè)定整組及單體電壓報警極限提醒用戶電池狀態(tài)信息；

4、 恒流放電和恒功率放電；

5、在線實時監(jiān)測電池組及單節(jié)電池的電壓、電流、等參數(shù)；

6、儀表可以實時查看單體電池柱形圖，測試完成可以直接查看單體曲線及與參考曲線對比圖。主機內(nèi)置存儲器，可直接在主機讀取、存儲紀(jì)錄，無須攜帶電腦，單機即可工作；日後用電腦打印報告即可。

PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表麵。使得電池表麵的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低於設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶矽電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險。